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泰納克實驗設(shè)備發(fā)生故障的原因一般可歸納為以下3類：
（1）儀器設(shè)備外部因素不正常所引起的故障；
（2）人為的操作使用過程不當(dāng)引起的故障；
（3）儀器設(shè)備自身內(nèi)部某些元件質(zhì)量缺陷引起的故障。
泰納克實驗設(shè)備外部因素不正常引起的設(shè)備故障這類故障主要由于實驗室環(huán)境溫度、濕度不適宜，供電電壓不穩(wěn)，外部電磁場以及儀器受震動而引起的。在溫度過高、濕度過大、通風(fēng)不良等環(huán)境條件下，設(shè)備運行過程中某些元件會過熱，甚至燒毀，電路板會氧化、遭腐蝕損壞，電路短路以及導(dǎo)電性灰塵吸潮也能夠直接燒壞元件。操作不當(dāng)或麻痹大意引起故障如果操作者在實驗過程中操作不當(dāng)，致使一些液體流入儀器內(nèi)部的電路板或元件上，會發(fā)生化學(xué)腐蝕和電化學(xué)腐蝕，使儀器受損。有的儀器設(shè)備在開機(jī)后須預(yù)熱一段時間方可使用，而有的儀器設(shè)備在開機(jī)后須按要求進(jìn)行調(diào)整、校正參數(shù)才能使用。如果儀器發(fā)生故障前的征兆沒能引起使用者注意，極有可能造成儀器損壞。這些人為操作不當(dāng)出現(xiàn)的故障應(yīng)引起管理者足夠重視。儀器設(shè)備質(zhì)量問題引起的故障碳膜電位器，多圈電位器或機(jī)械零部件因磨損、氧化或接觸不良能夠造成儀器設(shè)備的故障；儀器設(shè)備所使用的元器件性能不佳，例如，半導(dǎo)體器件、集成電路、電阻、電容等性能不穩(wěn)定也會引發(fā)故障；
王經(jīng)理
18695992058
毛經(jīng)理
13598458623
